黃山ROHS光譜儀

《電子信息產品中有毒有害物質的檢測方法》（以下簡稱《檢測方法》，標準號為 SJ/T 11365-2006）對RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定。其中X射線熒光光譜法（XRF）作為一種快捷、方便的方法被**為快速篩選方法。使用X射線熒光光譜法（XRF）可對鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素的相應標準樣品進行測試?？墒腔?nbsp;XRF的原理所獲得的結果只是元素的含量，也就是說如果這種篩選測試得到鉻（Cr）或溴（Br）的含量，即使他們*標也并不能代表有害物質（Cr VI）與阻燃劑PBB和PBDE）*標，這個測試結果（指含有）只是含有相應有害物質的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒有這兩種有害物質不合格的限值判斷依據的原因。
X射線熒光光譜儀 -主要用途
儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm,高40mm. 
X射線熒光光譜儀分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析,順序式與同時式相結合的譜儀結合了兩者的優點。 能量色散X射線熒光光譜能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光X射線熒光光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計數器為探測器，它們不需要液氮冷卻。近年來，采用電致冷的半導體探測器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發X射線熒光光譜、質子激發X射線熒光光譜、放射性同位素激發X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。

X熒光分析儀器的種類
現在X熒光分析儀器主要分為兩大類，一是：波長色散X熒光光譜分析儀；二是：能量色散X熒光分析儀器。這兩種儀器的測試原理有所區別，在對樣品激發其元素的特征X射線時，兩種儀器的設計原理是相同的，在對特征X射線進行探測時，波長波長色散X熒光光譜分析儀，是檢測的特征X射線的波長，即，X射線的波長性；而能量色散X熒光分析儀器，檢測的是特征X射線的能量，即，X射線的粒子性。兩種儀器的設計結構，探測方法有很大的區別。天瑞儀器公司生產的EDX系列X熒光光譜儀器，就是采用了能量色散的原理設計制造。

檢測限滿足更多需求
1、采用天瑞技術――特的激發X光源，樣品激發結構和探測系統，提高儀器元素的檢測靈敏度（降低檢出限），分析含量一般為0.1ppm到99.9％，比普通XRF儀器金屬中Pb檢出限低10倍。
2、采用高分辨率SDD探測器和的數字多道技術，使儀器的計數率上限提高10倍，400W大功率光管的使用同樣能夠使儀器能夠獲得*高的計數率達到100kcps，儀器元素的檢測精度水平大為提高，檢測*快速；
3、準直器，濾光片自動切換，可適應不同的樣品測試要求
4、二種光路系統跟據需要自由切換，光路*為有利于檢測金屬中Pb、As、Cr含量的有害元素。而測非金屬有害元素可以采用標準直照射光路測定含量的有害元素*快速有效。

性能優勢
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達100W的功率實現*高的測試效率
技術參數
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U）
檢出限：1ppm
分析含量：1ppm～99.99％
重復性：0.05％（含量96％以上）
穩定性：0.05％（含量96％以上）
環境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：140±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg
儀器配置
移動樣品平臺
信噪比增強器
SDD探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
天瑞生產的X熒光儀器，就是秉承X熒光的原理設計制造的，同時為了滿足不同應用領域的客戶，采用化的設計思路，在軟件與硬件設計上支持客戶應用設計，*貼近客戶實際使用要求。
產品優勢
XRF-X射線熒光光譜儀，ROHS六項的優點主要有六個組成部分，他們分別是：
   1.分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，60～200分鐘就可以測完樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl、待測元素。
   2.X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在*軟X射線范圍內，這種效應*為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
   3. 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 
   4. ROHS六項是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析.
   5. 分析精密度高。
   6.制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
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